【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part31:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(internallyinduced)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部感应)
【标准号】:IEC60749-31-2002
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2002-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;热学;温度变化;气候试验;电气工程;耐力;试验;组件;易燃性;环境试验;环境试验;集成电路;电学测量;半导体器件;电子设备及元件;电子工程;外观检查(试验);可燃性;半导体
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Plastics;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:ThispartofIEC60749isapplicabletosemiconductordevices(discretedevicesandintegratedcircuits).Theobjectofthistestistodeterminewhetherthedeviceignitesduetointernalheatingcausedbyexcessiveoverloads.NOTEThistestisidenticaltothetestmethodcontainedin1.1ofchapter4ofIEC60749(1996),apartfromchangestothisclause,theadditionoftitlestoclauses2and3andrenumbering.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:英语